Envoyez-nous un email :
labcompanion@outlook.com-
-
Demander un appel :
+86 18688888286
Exigences d'assurance de fiabilité générique pour les appareils optoélectroniques utilisés dans les équipements de télécommunications
Numéro de document GR-468
Numéro de série 02
Date d'émission Sept. 2004
Remplace TR-NWT-000468 Issue01
Informations de commande
ABSTRAIT: Les dispositifs optoélectroniques sont l'épine dorsale de l'industrie des fibres optiques. Ces dispositifs comprennent des lasers, des diodes d'émission de lumière, des détecteurs de photos et des modulateurs, et sont des composants clés utilisés dans des équipements de télécommunications tels que:
seulement
des milliers de dollars
GR-63
GR-78
GR-326
GR-357
GR-418
GR-487
GR-909
GR-1221
GR-1312
GR-2882
SR-332
TR-NWT-000870
TR-NWT-000930
GR-3160
Exigences d'assurance de fiabilité générique pour les appareils optoélectroniques utilisés dans les équipements de télécommunications
Les composants de ce produit sont:
GR-468-Core |
7.6hybrides. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7–5 Annexe A: Tables du plan d'échantillonnage Annexe B: Références APPENDICE C: Symboles, unités, abréviations et acronymes Exigence-Object INDEX GR-468 Numéro de noyau 2 septembre 2004 Assurance de fiabilité pour les appareils optoélectroniques Liste des figures Liste des figures Figure 1 -1 Figure 1-2 Figure 1-3 Figure 3-1 Figure 3-2 Figure 3-3 Figure 3-4 Figure 3-5 Figure 3-6 Figure 3-7 Figure 3-8 Figure 3-9 Éléments d'un programme complet d'assurance de fiabilité. . . 1–3 exemples de conceptions de modules de dispositifs optoélectroniques. . . . . . . . 1–10 schéma d'une conception de module laser commun. . . . . . . . . . . 1–11 Exemple pour deux mécanismes de défaillance avec des énergies d'activation différentes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–6 Exemple de spectre optique laser MLM. . . . . . . . . . . . 3–9 Exemple de courbes L-I et DL / DI avec un pli. . . . . . . . . . . . 3–19 Exemple de masque pour le test de modèle d'œil de signal à débit binaire élevé. . . . . 3–22 Définitions de temps de montée et de chute. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–23 Mesure du retard d'activation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–25 Modèle de modèle de champ lointain laser. . . . . . . . . . . . . . . . . 3–27 Exemple de résultats des tests d'homogénéité spatiale. . . . . . . . . . . . 3–33 Exemple de résultats des tests de linéarité des photodétector. . . . . . . . . . 3–34 XI GR-468-Core Assurance de fiabilité pour les appareils optoélectroniques Liste des tables Numéro 2 septembre 2004 Liste des tableaux Tableau 1-1 Tableau 2-1 Tableau 3-1 Tableau 3-2 Tableau 4-1 Tableau 4-2 Tableau 4 -3 Tableau 4-4 Tableau 4-5 Tableau 4-6 Tableau 5-1 Tableau 7-1 Tableau A-1 Tableau A-2 Tableau A-3 Tableau A-4 Définition des niveaux de qualité. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1–14 Utilisation provisoire des dispositifs en qualification. . . . . . . . . . . . . 2–7 Énergies d'activation supposées. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–5 Format de l'échantillon pour la déclaration des informations sur le taux d'échec. . . . . . 3–61 Paramètres de performance typiques pour la caractérisation du dispositif optoélectronique. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4–3 caractéristiques physiques des appareils. . . . . . . . . . . . . . . . . . 4–8 tests d'intégrité mécanique. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4–10 tests de contrainte environnementale non alimentés. . . . . . . . . . . . . . 4–12 tests de contrainte environnementale alimentés. . . . . . . . . . . . . . . . . 4–13 Conditions de choc opérationnel et de vibration pour les modules intégrés. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4–18 tests de vieillissement accéléré. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5–2 caractéristiques physiques et tests de stress pour TECS. . . . . . . . . 7–3 Plan d'échantillonnage LTPD1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A - 1 Échantillon Code de taille des lettres 1 (niveaux d'inspection générale). . . . . . A - 2 Plan d'échantillonnage unique pour une inspection normale (table maître). . . . A - 2 Plan d'échantillonnage double pour une inspection normale (table maître). . . A - 3 xii